【摘要】： 20%光电峰对称窗，使用仪器所提供的探头能量、线性和均匀性校正技术。探头卸下准直器，装上UFOV铅环，SLIT铅栅模型或四象限铅栅模型置于探头表面，尽可能紧贴晶体。点源，计数率不超过20kcps。 使用被测试γ相机提供的固有空间分辨率测试软件。使用经验公式FWHM＝1．75B，将BUFOV和BCFOV转换为FWHM。 X和Y方向上，CFOV的固有空间率FWHM，UFOV的固有空间分辨率FWHM，单位mm。
【测试条件及设备】 20%光电峰对称窗，使用仪器所提供的探头能量、线性和均匀性校正技术。探头卸下准直器，装上UFOV铅环，SLIT铅栅模型（仪器提供固有分辨率测试软件）或四象限铅栅模型置于探头表面，尽可能紧贴晶体。点源，计数率不超过20kcps。测试要分别在探头的X和Y方向进行。
【测试步骤】 将点源置于探头中心正前方，与探头表面的距离至少为该探头UFOV最大直线长度的5倍。采集3 000k计数四象限铅栅模型图像，图像存储在256×256以上矩阵中。使用SLIT模型时，采集计数和存储矩阵按测试软件要求设置。
【计算和分析】 使用被测试γ相机提供的固有空间分辨率测试软件。如果被测试仪器没有提供均匀性测试软件，按下列步骤进行：
（1）仔细观察四象限铅栅模型图像，分别在UFOV和CFOV确定基本清晰可见的铅栅间隔BUFOV和BCFOV，单位为mm。使用经验公式FWHM＝1．75B，将BUFOV和BCFOV转换为FWHM。
（2）按所使用的矩阵像素尺寸（mm／pixel）将FWHM单位换算为mm。
【结果报告】 X和Y方向上，CFOV的固有空间率FWHM，UFOV的固有空间分辨率FWHM，单位mm。
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