低温柔性检测

13.10.5　低温柔性检测（GB/T328.14—2007）

13.10.5.1　试验原理及方法

从试样裁取的试件，上表面和下表面分别绕浸在冷冻液中的机械弯曲装置上弯曲180°。弯曲后，检查试件涂盖层存在的裂纹。

13.10.5.2　试验目的

通过试验评定试样在规定负温下抵抗弯曲变形的能力，作为低温条件下卷材使用的选择依据。

13.10.5.3　主要仪器

1）试验装置如图13.28所示。该装置由两个直径（20±0.1）mm不旋转的圆筒和一个直径（30±0.1）mm的圆筒弯曲轴组成，弯曲轴在两个圆筒中间，能上下移动，圆筒和弯曲轴间的距离可以调节为卷材的厚度。整个装置浸入冷冻液中。

图13.28　试验装置原理和弯曲过程（单位：mm）

1-冷冻液；2-弯曲轴；3-固定圆筒；4-半导体温度计（热敏探头）

2）冷冻液。低至-25℃的丙烯乙二醇/水溶液（体积比1∶1），或低至-20℃的乙醇/水混合物（体积比2∶1）。.

3）低温制冷仪。能控制温度在+20～-40℃，控温精度0.5℃。

13.10.5.4　试件制备

1）矩形试件尺寸（150±1）mm×（25±1）mm，长边在卷材的纵向。从试样宽度方向上距边缘150mm以上均匀裁取试件。两组各5个试件，一组是上表面试验，另一组是下表面试验。

2）去除试件表面的任何保护膜。适宜的方法是常温下用胶带黏在上面，冷却到接近假设的冷弯温度，然后从试件上撕去胶带。

3）试件试验前至少在（23±2）℃温度下平放4h，并且相互之间不能接触，也不能黏在板上。

13.10.5.5　试验步骤

1）冷冻液达到规定的试验温度，误差不超过0.5℃，试件放于支撑装置上，且在圆筒的上端，保证冷冻液完全浸没试件。试件放人冷冻液达到规定温度后，开始保持在该温度1h±5min。半导体温度计的位置靠近试件，检查冷冻液温度。

2）试件放置在圆筒和弯曲轴之间，试验面朝上，然后设置弯曲轴以（360±40）mm/min速度顶着试件向上移动，试件同时绕轴弯曲。轴移动的终点在圆筒上面（30±1）mm处。

3）在完成弯曲过程10s内，在适宜的光源下用肉眼检查试件有无裂纹，必要时，用辅助光学装置帮助。假若有一条或更多的裂纹从涂盖层深人到胎体层，或完全贯穿无增强卷材，即存在裂缝。

13.10.5.6　结果评定

一个试验面5个试件在规定温度至少4个无裂缝为通过，上表面和下表面的试验结果要分别记录。