逻辑电平开关怎么测试

实验三　TTL门电路的逻辑功能测试

一、实验目的

1．测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2．了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理

实验中用到的基本门电路的符号为：

图6－9　与门

图6－10　或门

图6－11　非门

图6－12　与非门

图6－13　或非门

图6－14　异或门

在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。

三、实验设备与器件

1．数字逻辑电路实验箱

2．芯片与门74LS08、或门74LS32、非门74LS04、与非门74LS00、或非门74LS02、异或门74LS86各一片

四、实验预习及内容

1．掌握集成芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86的管脚分布图。

2．分别列出芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86的真值表。

五、实验步骤

1．依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86做实验，在实验箱IC插座模块找到相应管脚数目的IC插座，插上并保持连接正常。

2．对照附录的相应芯片引脚图，按照芯片的管脚分布图接线，注意确保电源V_CC（＋5V）输入脚和地输入脚的连接，芯片输入端连接到逻辑电平输出单元，通过逻辑电平输出单元控制输入电平，当逻辑输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。芯片输出端连接到逻辑电平显示单元，输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。

3．按照芯片各逻辑门的真值表检验芯片的逻辑功能芯。

六、实验报告要求

1．设计实验中各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。

2．根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。