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光切显微镜检测表面粗糙度

时间:2024-11-01 百科知识 版权反馈
【摘要】:光切显微镜是根据光切原理制成的光学仪器,是测量表面粗糙度的常用仪器。该仪器适用于测量Rz为0.8~80μm的外表面的表面粗糙度,其外形结构如图20.1所示。由目镜测微器测出aa′,即可换算其波峰至波谷的高度Yi。②调焦时应先用眼睛直接观察,使物镜和零件表面靠近但不能接触,然后在目镜内观察并同时由下而上移动臂架,以避免碰坏物镜。

一、实验目的

①了解光切显微镜的工作原理及其正确使用方法。

②掌握光切显微镜测量表面粗糙度高度参数Rz的原理。

③加深对表面粗糙度高度参数Rz的理解。

二、实验设备

光切显微镜是根据光切原理制成的光学仪器,是测量表面粗糙度的常用仪器。 该仪器适用于测量Rz为0.8~80μm的外表面的表面粗糙度,其外形结构如图20.1所示。

图20.1 光切显微镜外形图

1—底座;2—立柱;3—升降螺母;4—微调手轮;5—支臂;6—支臂锁紧螺钉;7—工作台;8—物镜组;9—物镜锁紧机构;10—遮光板手轮;11—壳体;12—目镜测微器;13—目镜

三、实验原理

光切显微镜的光学系统如图20.2所示,光线经狭缝3后成一扁平光带通过物镜4,顺着加工痕迹以45°的方向照射被测表面。 具有微观不平的表面被照射后,分别在其轮廓的波峰s点、波谷s′点产生反射,通过物镜4,它们各成像在分划板5上的a和a′。 由目镜测微器测出aa′,即可换算其波峰至波谷的高度Yi

图20.2 光切显微镜的光学系统图

1—光源;2—聚光镜;3—狭缝;4—物镜;5—分划板;6—目镜测微器

因为 (V为物镜放大倍数)

所以

由图20.3可知,测微十字线移动方向与aa′方向是成45°设计的。

因为aa′=Hcos45°,而H=Δhik

所以

式中

所以 E——仪器的分度值;

H——十字线移动距离;

Δhi——测微套筒转过的格数;

K——测微套筒每转过一格十字线实际移动的距离。

图20.3 目镜测微器

表20.1中给出的E值是理论值,其实际值根据仪器附件标准刻度尺检定给出。

表20.1 光切显微镜的分度值

峰谷的读数方法为:固定分化板上有9条等距刻线,分别标有0,1,2,3,4,5,6,7,8;可动分化板上有十字线和双标线,当转动目镜测微器12时,可动十字线和双标线相对固定刻尺移动一个刻度间距。 具体读数示例如图20.4所示。

图20.4 读数示例

四、实验步骤

①根据被测零件的表面粗糙度要求,参照仪器说明书正确选择物镜组,并装入仪器。

②将被测零件擦净后放在工作台上,使加工纹路方向与光带方向垂直。

③先粗调,看到光带后再细调,直到光带的一边非常清晰为止。

④松开目镜上的紧固螺钉,旋转目镜13,用目测法,使目镜中十字线的一根线与光带中线位置平行,再紧固目镜。

⑤旋转测微套筒,按图20.5所示,在取样长度之内,使目镜十字线分别与5个波峰h PI和5个波谷h PV的最低点相切,并记下测微套筒的10次读数。

图20.5 被测轮廓曲线

⑥根据定义,也可求出轮廓的最大高度Rz值为:

Rz=(h PImax-h PVmin)E

⑦填写实验报告,作合格性判断。

五、注意事项

①将被测零件安放在工作台上,要使零件加工痕迹与光带垂直,因此各测点的数据为零件痕迹与光带垂直时的数值。

②调焦时应先用眼睛直接观察,使物镜和零件表面靠近但不能接触,然后在目镜内观察并同时由下而上移动臂架,以避免碰坏物镜。

六、思考题

①简述光切法的基本原理。

②为什么要测定光切显微镜物镜的放大率? 怎样测定?

③怎样确定光切显微镜的常数C值?

④光切显微镜的测量范围是多少?

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