首页 百科知识 纳米线的平面内生长

纳米线的平面内生长

时间:2024-11-04 百科知识 版权反馈
【摘要】:平面ZnO纳米线的生长轴沿±方向,与蓝宝石衬底的[1-100]方向平行,表明纳米线和衬底之间具有外延关系。这些平面InAs纳米线的生长原因是Au与InAs纳米线维持{111}界面,而与GaAs表面之间为B界面,因此纳米线可以沿衬底表面的6个〈112〉方向生长。显然在纳米线转移后,整体和局部的定位和排布得以维持。

纳米线通常沿垂直于衬底或沿与衬底成某个角度的方向生长,这种生长方式已经取得了巨大的成功。另一种生长方式是沿与衬底表面平行的方向生长,该类纳米线具有明显的优点。例如,垂直形状(如在〈111〉衬底上生长的〈111〉纳米线)导致高的纵横比,增加了器件制备的复杂程度。而生长在平面内的纳米线更适合于常规的平面加工技术。平面内纳米线生长通常有两种方法:①从衬底表面的蚀刻面(如侧壁和V型槽)生长纳米线;②在非常规生长条件下在衬底表面平面生长纳米线。第一种方法最初用于生长GaAs,但已被广泛应用于Si。在Si(110)衬底上,可以用各向异性蚀刻,很容易具有(111)侧壁的深沟槽。然后沉积Au纳米颗粒,Si纳米线可以在一个(111)侧壁上成核,并桥接到相邻的侧壁。类似的方法可用于其他材料系。这里重点介绍第二种方法,即纳米线沿平行于衬底表面的非常规方向生长。

在蓝宝石和GaN衬底表面可以观察到平面状的“爬行”ZnO纳米线与其他垂直生长模式混合在一起。这些“爬行”的ZnO纳米线通常为根状,且生长方向随机,与下面的衬底没有明确的晶体学关系,结晶较差,因此通常被认为是一个麻烦,如在解释光致发光发射光谱时。Wang等人发现,当使用AlxGa1xN衬底时,ZnO纳米线的爬行生长被抑制。Fan等人研究发现,在使用CVD法在(0001)GaN衬底上生长ZnO纳米线时,随着温度的升高和Au催化剂尺寸的增加,爬行生长更为普遍,表明从原始Au颗粒中扩散出的Au催化“爬行”生长[51]。通过将ZnO纳米线的生长限制在GaN表面的平行裂纹中,Fan等人利用爬行ZnO纳米线的交叉实现了整齐的纳米墙[51],类似于其他研究组的随机方向ZnO纳米线。

Nikoobakht等人使用相输运过程和Au催化剂在a蓝宝石衬底上生长出排列整齐的平面ZnO纳米线。平面ZnO纳米线的生长轴沿±(1-100)方向,与蓝宝石衬底的[1-100]方向平行,表明纳米线和衬底之间具有外延关系。如前所述,a面ZnO与c面蓝宝石的晶格非常匹配,因此这种平面ZnO纳米线应当在a面蓝宝石表面近乎无应变地生长。

Quitoriano等人发现了一种利用SiO2引导层控制〈110〉Si纳米线的新方法,如图3.6所示[52,53]。使用KOH来刻蚀SOI Si(001)衬底的顶部Si层并暴露出下面的掩埋氧化物(BOX)。通过刻蚀BOX,顶部Si层进一步底切,从而形成悬出沟槽的Si台。Au纳米颗粒沉积在Si台上,用于成核纳米线生长。令人惊奇的是,朝BOX生长的〈111〉纳米线在其接触到BOX时会转为沿〈110〉方向生长,如图3.6(a)所示。Au和Si之间的界面保持单一(111)面。然后纳米线继续在BOX的顶部沿〈110〉方向生长,直到到达相邻的平台。这使得以一段〈110〉桥接纳米线连接两个电极成为可能,可以形成孤立的FET器件。Quitoriano等人通过在Si(001)衬底上形成Au图案进一步拓展了这种SiO2引导技术。他们发现,有可能通过氧化物窗口生长处于能量劣势的垂直〈001〉Si纳米线[53]

图3.6 使用SiO2引导生长的Si纳米线

目前仅有少数在(001)和(111)B衬底表面上生长III-V族纳米线的研究:通常终止于〈111〉B纳米线的根部。III-V纳米线有时会在(001)表面的[1-10]或[-110]方向上生长几百纳米,然后突然转变为更典型的〈111〉B方向。Mikkelson等人使用扫描隧道显微镜(STM)全面研究了这种平面纳米线的生长,发现纳米线与(001)衬底具有外延关系。不出所料,功能化表面的PLL会阻挡平面纳米线的生长[34]。Zhang等人观察到GaAs(111)B衬底上金催化的InAs纳米线的平面生长。这些平面InAs纳米线的生长原因是Au与InAs纳米线维持{111}界面,而与GaAs表面之间为(111)B界面,因此纳米线可以沿衬底表面的6个〈112〉方向生长。

目前可以利用大气压MOCVD和Au催化剂在GaAs(001)表面上生长平面〈110〉方向的GaAs纳米线,如图3.7所示[55,56]。在低温(<450℃)下,GaAs纳米线优先沿〈111〉B方向生长,而在较高的生长温度(>450℃)下,纳米线优先沿平面〈110〉方向生长,如图3.7(a)与图3.7(b)所示。TEM的测试结果显示,平面〈110〉纳米线为闪锌矿结构,大多没有堆垛层错,且与(001)表面具有外延关系,如图3.7(c)所示,这已经被证明,平面〈110〉纳米线的生长不依赖于纳米线直径,并且在较大范围的V/III(36~90)内似乎没有变化。使用n型平面〈110〉GaAs纳米线(Nd=2.3×1017 cm-3)作为金属半导体场效应晶体管(MESFET)的沟道材料,测得电子的迁移率为4 120cm2·(V·s)-1,表明平面GaAs纳米线的材料质量极高。平面〈110〉GaAs纳米线也可以先在牺牲层(如AlxGa1xAs)上生长,然后通过湿法刻蚀去除牺牲层,将平面纳米线从衬底释放出来,然后转移到其他衬底(如Si)上。可以使用聚二甲基硅氧烷(PDMS)印模来拣起释放的平面纳米线,并放置到另一衬底上。图3.7(d)为转移到Si衬底的平面〈110〉GaAs纳米线。显然在纳米线转移后,整体和局部的定位和排布得以维持。随着进一步的发展,该技术有望作为在Si和其他衬底上获得位置可控和排列整齐的纳米级III-V材料的晶片级方法。

图3.7 (001)GaAs衬底上的平面〈110〉GaAs纳米线[55]

免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。

我要反馈

一键复制
图片预览