均匀掺杂的纳米线是各种电子和光电子器件的关键结构单元。此类器件具有广泛的应用潜力,一个典型例子就是纳米线场效应管。此外,对场效应管的研究能够评估纳米线的性能水平。研究表明,采用互补的n型和p型掺杂工艺可以制备包括Si、Ge和GaN在内的代表性纳米线材料[1-3]。例如,在利用硼-[3](磷化氢-[2])掺杂的Si纳米线制备的场效应管中,随着栅极电压变负(正),器件会开启,这是p-(n-)沟道场效应管的特性,如图5.1(a)、图5.1(b)所示。分析表明,掺杂的Si、Ge和GaN纳米线场效应管的性能与相同材料制备的平面器件的最佳性能相当。研究还证明了具有环栅结构的外延InAs纳米线场效应管有较高的电子迁移率[4]。
均匀纳米线器件的高性能已经通过低温测试进一步验证。例如,在与Al基超导体电极接触的InAs纳米线中已经实现超导态。实验表明纳米线和金属接触面无肖特基势垒,且纳米线中电子传播的相位相干长度高达几百纳米。研究还发现分子级的Si纳米线单电子晶体管表现出单周期库仑阻塞振荡〔图5.1(c)〕和通过长达400nm单根纳米线“岛”的相干传输[5]。这些结果表明在该尺度下,Si纳米线是一个很少有或没有结构掺杂变化的系统。相比之下,光刻制备的Si纳米线的结构和掺杂波动则要大得多,并产生不同电子区域的长度,大小超过一个数量级。此外,在分子尺度Si纳米线中,在仅剩几个电荷的情况下仍然观察到了相干传输,如图5.1(d)所示,这进一步证明了纳米线材料的高质量、长载流子平均自由程,以及应用于低温和室温器件的独特潜力[5]。
图5.1 Si纳米线场效应管:栅极电流与源漏电压曲线[2,3,5]
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