首页 理论教育 测试性预计

测试性预计

时间:2023-02-14 理论教育 版权反馈
【摘要】:当系统设计有较大更改时,应重新进行测试性预计。以系统测试性框图为基础,根据设计的可测试特性,把BITE、测试点及其引出方法标注在框图上。在开展LRU测试性预计时,需要LRU的测试性框图,LRU的接线图、流程图和机械布局图等,可靠性预计和FMETA结果,内部、外部观测、测试点位置,工作连接器和检测连接器(插座)输入/输出信号,LRU的BIT设计资料,有关LRU维修方案、测试设备规划的资料等。填写LRU测试描述表和LRU测试性预计工作单。

测试性预计时根据设计情况定量估计测试性参数是否满足指标要求,预计是按系统的组成,由部件到设备、分系统,最后估计出系统级的测试性参数值,预计是由小到大,由局部到整体的综合过程。

测试性预计工作主要是在详细设计阶段进行,若在方案阶段和初步设计阶段估计测试性指标实现的可能性,可根据以前相似产品的经验和技术水平进行初步预计。与测试性分配类似,测试性预计是一个不断细化和改进的估计所能达到指标的过程。实际上,在确定系统测试性指标时,就要考虑各组成部分可能达到的指标以及类似产品的经验等,对系统可能达到的指标做了粗略的估计,这也可以说是最初步的测试性预计。在详细设计阶段可以获得本系统更多更真实的数据,预计的结果可以作为评价是否达到设计要求的初步依据。随着设计工作的深入,应及时修改有关预计数据,预计结果才能更接近实际情况。当系统设计有较大更改时,应重新进行测试性预计。

通常情况下,测试性预计包括系统测试性预计、SRU测试性预计、LRU测试性预计和BIT预计等。

12.3.1 系统测试性预计

系统(或分系统)测试性预计,是根据系统设计的可测试特性来估计可达到的故障检测能力和故障隔离能力。所用检测方法包括BIT、人员观测和维修人员的计划维修等。其主要工作如下:

(1)准备测试性框图。以系统测试性框图为基础,根据设计的可测试特性,把BITE、测试点及其引出方法标注在框图上。

(2)从FMETA和可靠性预计资料中取得故障模式和故障率数据。

(3)取得BIT分析预计的结果。

(4)人员可观测故障分析。根据测试特性设计(如故障告警、指示灯、功能单元状态指示器等),或者从FMETA表格中分析判断人员可观测或感觉到的故障及其故障率。

(5)维修故障检测分析。分析系统维修方案和计划维修安排及外部测试设备规划,测试点的设置等,或者从维修分析资料和FMETA表格中识别通过维修人员现场维修活动可以检测的故障模式及其故障率。

(6)填写系统测试描述表和系统测试性预计工作单,如表12-1和表12-2所示。

(7)计算系统总的故障率(λT),可检测的故障率(λD)和可隔离的故障率(λI).

故障检测率FDR=λDT

故障隔离率FIR=λIT

列出用以上方式不能检测的故障模式,并按其影响和发生频率来分析对安全和使用的影响,以便决定是否需要进一步采取改进措施。

(8)预计结果分析。

把以上分析与预计的结果与规定的系统测试性要求比较,评定是否满足要求,必要时提出测试性设计上的改进建议。

表12-1 系统测试性描述表

①:填写系统名称;②:填写系统的编号,格式为:所属系统的编号——两位数字。

12.3.2 LRU和SRU测试性预计

对于系统中每个LRU(特别是非电子类的)应该进行测试性预计,通过BIT、ATE和观测/测试点(TP)等方法检测故障和隔离故障到SRU的能力,评定LRU的设计是否符合测试性要求。

在开展LRU测试性预计时,需要LRU的测试性框图,LRU的接线图、流程图和机械布局图等,可靠性预计和FMETA结果,内部、外部观测、测试点位置,工作连接器和检测连接器(插座)输入/输出信号,LRU的BIT设计资料,有关LRU维修方案、测试设备规划的资料等。

有了上述资料,即可开展LRU测试性预计分析工作。

(1)BIT分析,分析LRU的BIT软件和硬件可检测和隔离那些功能故障模式及其故障率。

(2)I/O信号分析。主要分析工作连接器和检测连接器的I/O信号可检测和隔离的工作模式及其故障率。

(3)观察点和测试点分析。这是分析人工检测和隔离能力。另需要指出的是,这里的测试点是指未引导连接器上的内部测试点。

(4)填写LRU测试描述表和LRU测试性预计工作单(如表12- 3所示)。LRU测试描述表与系统测试描述表内容相同,只不过将对系统的描述更改为LRU。

(5)把预计结果与要求值比较,必要时提出改进LRU测试性设计建议。

SRU的测试性预计的目的与方法与LRU的相同,只是分析的对象是组成LRU的各个SRU。

12.3.3 BIT预计

BIT预计是在BIT分析和设计的基础上进行,通过工程分析和计算来估计BIT故障检测率和隔离率量值,并与规定的指标要求进行比较。针对BIT预计分析过程如图12- 2所示。

图12-2 BIT的预计分析过程

流程分析内容各个项目的详细阐述与测试性预计分析的内容相同。BIT分析及建立BIT测试描述表是在测试性预计分析未详细体现的,其具体含义为分析系统的各种BIT工作模式以及其他检测诊断手段的测试范围,算法和流程等,并了解系统工作前BIT、工作中BIT和工作后维修BIT的工作原理,及它们所测试的范围、启动和结束条件,故障显示记录情况等,并根据对各种诊断方案和方法的分析,建立系统级、LRU级、SRU级的BIT测试描述表。

BIT测试描述如表12-4、表12-5所示(以SRU的BIT测试描述表为例)。BIT预计工作单如表12-5所示。

表12-4 SRU的BIT测试描述表

①填写SRU名称;②填写系统的编号,格式为:所属系统的编号——两位数字。

免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。

我要反馈