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脑裂畸形并灰质异位及发育性静脉异常

时间:2023-04-16 理论教育 版权反馈
【摘要】:灰质异位与脑裂畸形可合并存在,前者在MRI各序列的信号强度均与正常灰质相同。综合本例患者的影像学表现,诊断为脑裂畸形合并灰质异位,而其裂隙内的条带状强化,考虑为合并发育性静脉异常。其中以脑裂畸形和灰质异位最为常见。本例为一例较常见的神经元移行异常,但同时伴有发育性静脉异常较少见,CT、MRI及PET对显示神经元移行异常均有价值。

【临床资料】

患者男,8岁。癫癎1个月,平素体健。体检无阳性发现。

【影像学检查】

1.CT 平扫示右额叶混杂密度影,以等及低密度为主,其内并见点状高密度(图26a)。

2.MRI 平扫右额叶见一裂隙自脑表面深达白质区,其周围皮质增厚,在DWI、T1WI、T2WI序列上均与皮质信号相同(图26b~d),增强检查示裂隙内见一明显强化条带(图26e~g)。

3.PET 右额叶病变浓集程度与皮质相同(图26h)。

【诊断及鉴别诊断】

本例为男孩,右额叶低及等密度病变,MRI各序列上与皮质信号相同,并可见一裂隙自脑表面深达白质区,裂隙内明显强化条带状影,首先考虑为先天畸形性病变,须鉴别的疾病主要包括神经元移行异常中的灰质异位和脑裂畸形。

1.脑裂畸形 指大脑半球的裂隙深达侧脑室室管膜,且皮质灰质沿裂隙两侧向内折入,以在脑表面软脑膜与深部室管膜之间形成软膜室管膜缝(P-E缝)为其特征。

图26 脑裂畸形并灰质异位及发育性静脉异常
a.CT:平扫,右额叶混杂密度影,其内并见点状高密度影;b~g.MRI:平扫,右额叶见一裂隙自脑表面深达白质区,其周围皮质增厚,在DWI、T1WI和T2WI序列上均与皮质信号相同;增强检查裂隙内见一明显强化条带;h.PET:右额叶病变浓集程度与皮质相同

2.而灰质异位 指神经元在皮质、灰质核团以外异常部位的聚集,常见于室管膜下和皮质灰质下,可局灶性或弥漫性。灰质异位与脑裂畸形可合并存在,前者在MRI各序列的信号强度均与正常灰质相同。

综合本例患者的影像学表现,诊断为脑裂畸形合并灰质异位,而其裂隙内的条带状强化,考虑为合并发育性静脉异常。

【讨论】

神经元移行异常是较常见的中枢神经系统先天性病变,包括无脑回畸形、多小脑回畸形、灰质异位和脑裂畸形等。其中以脑裂畸形和灰质异位最为常见。以MRI为其首选检查方法。本例通过CT、MRI及PET检查诊断不困难,但脑裂畸形易合并其他神经元移行异常,如多小脑回畸形、灰质异位等,另外还可伴有侧脑室扩大或脑积水、透明膈缺如、胼胝体缺如或蛛网膜囊肿等,应注意观察。脑裂畸形以软膜室管膜缝(P-E缝)为其特异性表现,开放型中较为明显,但少数融合型两侧皮质灰质闭合,无完整P-E缝,易漏诊或误诊,但可见侧脑室壁局限性突起。本例PET检查也显示病变的浓集程度与皮质相同。

本例为一例较常见的神经元移行异常,但同时伴有发育性静脉异常较少见,CT、MRI及PET对显示神经元移行异常均有价值。

(孙志华 张云亭)

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